CCI MP:

單一測量模式，新一代白光干涉儀

光學(xué)干涉測量技術(shù)

? 非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸掃描控制，2.2毫米掃描范圍

? 改進(jìn)后的拼接功能，使Z軸量程可達(dá)100毫米

? 1024  x  1024像素陣列可獲得高分辨率的大視場

? 增強(qiáng)了角度靈敏度，能夠得到更好的測量數(shù)據(jù)

從實質(zhì)上消除測量的不確定性

? RMS重復(fù)性小于0.2埃，臺階高度重復(fù)性小于0.1%

? 整個測量量程有著0.1埃分辨率

? FEA優(yōu)化機(jī)械設(shè)計，具備出色的R&R能力

? 采用ISO標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)，確保結(jié)果的可信度

追求長期成本效益的堅固耐用設(shè)計

? 非壓電Z軸掃描控制可省去昂貴的維修費(fèi)用

? 自動表面檢測可防止撞壞鏡頭

? 內(nèi)置自我診斷工具可快速、輕松地排除故障

? 操作的簡便性可減少使用者出錯可能

64位控制和分析軟件

? 包括中文、日文在內(nèi)的多語種支持

? 兼容大多數(shù)計算機(jī)平臺，有利于開展合作性研究項目

? 提供多種新工具，包括3D表面隨時間演變過程中進(jìn)行4D分析

? 根據(jù)多批次測量數(shù)據(jù)自動生成報告

了解表面微觀結(jié)構(gòu)

具有大視場和高分辨率，可觀察復(fù)雜的表面結(jié)構(gòu)。

辨識拋光缺陷

CCI為我們團(tuán)隊在精密工程和表面特征的研究領(lǐng)域始終保持地位提供了極大的幫助。

Dr S.V Rama Gopal

科學(xué)家, Aspherics Group, CSIO, 印度

通過高分辨率的三維圖像能夠簡單快速地識別如彗尾等拋光缺陷。

高性能的CCI MP是科研和制造必不可少的測量手段。

大量程、高分辨率、高準(zhǔn)確性和高可靠性–取得成功的四大要素

無論哪種零件、無論多快的分析速度，CCI MP均可保證三維面形測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭，可對極為粗糙到非常光滑的所有表面進(jìn)行細(xì)致全面的分析。

功能豐富–可隨時用于生產(chǎn)運(yùn)營或研究項目

時刻與研發(fā)人員和科學(xué)家的專業(yè)技術(shù)同步發(fā)展，CCI       MP能夠滿足包括太陽能、光學(xué)和醫(yī)療器械等領(lǐng)域提出的最苛刻的測量要求。高級數(shù)據(jù)拼接功能拓展了儀器的可測量范圍。

使用的簡便性可減少操作員的培訓(xùn)成本

即便不常使用，也無需對操作員重新進(jìn)行培訓(xùn)和指導(dǎo)。CCI    MP的設(shè)計便于科學(xué)家、學(xué)生、開發(fā)人員或生產(chǎn)檢查人員使用。CCI MP的創(chuàng)新功能如自動量程和自動條紋尋找等，可以簡化樣品的調(diào)整過程。為用戶節(jié)省時間、減少錯誤并快速得出所需結(jié)果。

完整的平臺簡化ISO-17025的集成

不需要增加程序的復(fù)雜性就可使用戶的分析能力得到極大提高。也不需要測量模式間進(jìn)行復(fù)雜的切換，以及測量過程中校準(zhǔn)鏡頭，就可以測量多種多樣零件和表面。標(biāo)準(zhǔn)化的模式、程序和報告功能，使CCI MP可輕松集成到用戶的質(zhì)量管理系統(tǒng)。